随着高速光通信发展，光器件种类多、迭代快，对测量仪要求更高。而在新兴平面光波导和硅光芯片领域，其对仪表测量精确性、稳定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑战。东隆集团专注于高端光学测量与传感测试系统研发和解决方案开发，拥有OFDR核心技术，并成功推出国产多功能光学矢量分析系统--OCI-V。 OCI-V光学矢量分析系统，原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插

1 概述 在集成光子学领域中，光波导之间或芯片与光纤之间的光能传输一直是一个关键问题。而对于高速硅光模块来说，激光器发出的光信号需要进入到其他光路器件中（如WDM或调制器），最终光路信号也需要进入探测器进行光电转换。这一发一收的过程中均会涉及到光信号在不同介质间的传递。随着光模块密度和速率越来越高，提升光路耦合效率也是各大厂商面临的问题。在本篇文章中，我们将对目前发展成熟的一些光路对接，波导光纤耦合方案作

自从光纤被用于通信以来，与光纤相关的产品与技术得到了显著发展。无论是传统的无源光器件还是近年来AI浪潮下火爆市场的高速光模块，都大量用到了光纤技术和产品。尽管光纤及相关产品的制作工艺已经相当成熟，但光纤以玻璃成分为主，掺杂离子的不均匀、高低温环境、长期弯曲形变、剥纤、点胶固化等各种工艺流程均可能使光纤产生细小裂纹。这些微裂纹将严重影响光纤的使用寿命，进而影响光纤的信号传输性能。 微裂纹是指光纤相互分离

问：仪器标称测量长度是100米，那我连接大于100米的光纤，只测量前面100米，行不行呢？ 答：不行！ 我们在与客户交流时，经常会被问到以上问题，通常情况下，连接的光纤必须要小于仪器标称测量长度。这里既然用“通常”，那么当然也存在一些特殊情况可以连接大于100米的光纤，而不影响测量结果。 如果要搞清楚这个问题，首先我们需要了解一下信号采集原理中的“混叠现象”，大家可自行搜索百度百科查看。如下截图所示： “混叠”百度百

绪言 针对目前集成电路和光学器件向微型化,集成化的发展趋势,以及构建大规模光电一体化集成系统的现实需求,基于SOI(Silicon On Insulator)的微环谐振腔（MRRs）由于其高集成度,与CMOS工艺兼容等优点,迅速成为了热点研究课题,并在高灵敏度传感器,全光网络,光陀螺,光开关等领域显示出了巨大的应用潜力。本文以2021年发表在Optics Letters上的一篇期刊文章来讲述使用OFDR技术（光频域反射）表征片上微环谐振器相关性能参数，并由此提出一种谐振模本征q因子的

OCI1302是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（ OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI1302 采用外置激光器，与设备Laser端连接，实现分体式测量，OCI1302可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。外置激光器1可作为光源单独使用。 产品特点： • 波长范围：C+L或O波段，精确波段由外置激光器确定 • 空间分辨率：10μm@50m • 测量长度：100m

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析仪。OCI-V的原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。OCI-V系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。 产品特点： 自校准 测量长度：200m 波段：C+L波段：1525~1625nm、O波段：1265~1340nm（可选） 1秒内测量多种光学参数 主要

OCI-L是一款高精度光纤长度测量仪，主要用于测量光学链路的延时和长度。其原理基于光频域反射技术（OFDR），长度测量范围为100m，可选200m，测量精度达mm量级。支持系统定制，为客户提供全方位的解决方案。 产品特点： 测量精度：1mm 测量速度快，使用方便 支持定制更大测量范围 主要应用： 无源器件测量 光学链路测量

概述 光纤阵列（FA）因体积小、集成度高等优势在光纤通信领域应用广泛。它需要剥纤切割、点胶固化、研磨抛光等各种操作步骤制作。在剥纤和胶水固化等操作中，很容易因操作不当给光纤带来微裂纹或微损伤，经过较长时间或在恶劣的环境下，损伤裂化极易造成断裂，产生严重损耗或失效。而使用OLI能在每个产品制作完成后，对每个通道逐一进行扫描检测，规避生产过程中可能出现的损伤，大大减少后期因隐形损伤带来的稳定性问题。 下面的测

弱反射光纤光栅（ WFBG）是利用紫外或飞秒激光器照射光纤而成，使具有光敏特性的纤芯产生周期性的折射率分布，从而形成敏感栅区，具有特征中心波长。全同弱反射光纤光栅阵列是在一根光纤上密集刻写波长相同的WFBG，由于每个光栅的反射都比较弱，可实现一根光纤上复用成千上万个光栅，阵列上每个光栅栅区长度相同，相邻光栅之间栅距相同，呈周期性分布。弱栅相对于普通光纤具有反射信号强、特征中心波长的特点，使用光频域反射技术（OFD

LGA50是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，测量长度50m,单次测量 可实现从器件到链路的全范围诊断。LGA50可轻松查 找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测 量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达 0.1mm。 产品特点 • 波长范围：1525~1615nm • 空间分辨率：10μm@50m • 测量长度：50m • 自校准，无需人为干预，稳定性好 主要应用 • 光器件、光模块测量 • 光纤长度精确测量 • 硅光芯片测量 • 光谱

光纤光栅（FBG）作为一种新型的无源器件，为光通信和光传感成功开辟了一条崭新道路，从光纤光栅技术被应用以来，该技术在光纤传感技术和高速光纤通信领域得到了飞速发展。随着光通信的发展，传输速率不断提高，偏振特性对传输质量的影响也更加明显，成为高速光纤通信系统发展的障碍，然而，在光传感领域，偏振效应具有响应速度快、效率高等优势，可以利用光纤的偏振敏感特性进行传感，以及利用器件的超快偏振响应特点进行全光信号处

在各种光纤干涉仪器中，要想得到最大的相干效率，就需要光纤传播光的偏振态十分稳定。一般光在单模光纤中传输实际上是两个相互正交的偏振基模，当为理想光纤时传输的基模是两个相互正交的二重简并态，而实际拉制中光纤会出现不可避免的缺陷，这种缺陷会破坏二重简并态导致传输光的偏振态发生改变，且随着光纤长度增长这种效应会越来越明显，这时最好的办法就是采用保偏光纤。 保偏光纤就是保持光纤中基模的偏振态，最常见的是人为

在光学领域，透镜是光学系统中最重要的组成元件，现代的光学仪器对透镜的成像质量和光程控制有很高的要求。尤其在透镜的制造要求上，加工出的透镜尺寸，其公差必须控制在允许范围内，因此需要在生产线上形成对透镜厚度实时、自动、精准的检测，这对提高产线的生产效率和控制产品的质量具有重要意义。 目前，测量透镜中心厚度的方法主要分为接触式测量和非接触式测量。接触式测量有很多弊端，如不能准确找到透镜的中心点(最高点或最

武汉东隆科技有限公司的OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。 该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批

光频域背光反射计结构包括线性扫频光源、迈克尔逊干涉仪、光电探测器和频谱仪(或信号处理单元)等，基于光外差探测。 光频域背光反射计在光学测量以及检测领域的应用非常广泛，主要应用有光器件、光模块测量；光纤长度精确测量；硅光芯片测量；光谱、群延时测量；土木建筑结构健康监测；复合材料疲劳检测；汽车结构应变、温度检测；应变场、温度场重构等 武汉东隆科技有限公司推出的基于光频域反射技术的光频域背光反射计光学链路诊

武汉东隆科技有限公司的光频域背光反射计OCI是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。 OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。 武汉东隆科技有限公司提供高分辨光频域背光反射计报价服务，更多信息可来

光频域背光反射计(OFDR)是20世纪90年代以来的一个新技术，能应用于各种范围的高精度测量和具有大的动态范围。 光频域背光反射计结构包括线性扫频光源、迈克尔逊干涉仪、光电探测器和频谱仪(或信号处理单元)等，基于光外差探测。 武汉东隆科技有限公司基于光频域背光反射（OFDR）技术，推出了一款超高精度光学链路诊断仪OCI，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、

OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点，可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析，品质监测及故障诊断。 产品特点： 空间分辨率：20μm 测量长度：20m 中心波长：1550nm 插损、回损分析 主要应用： 无源器件插损、回损测量 硅光芯片插损、回损测量 平面波导器件测试 光学链路分析、诊断

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。 产品特点 自校准 测量长度：200m 波段：C+L、O波段（可选） 1秒内测量多种光学参数 主要应用 平面波导器件 硅光器件 光

SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫频光源，可应用于光学测量及分析系统的二次开发。 产品特点 多功能 C+L、O波段（可选） 可扩展扫频光源 主要应用 平面波导器件 硅光器件 光纤器件 波长可调器件、放大器、滤波器 光学测量分析二

OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。 该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。 产品

OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点，可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析，品质监测及故障诊断。 产品特点 空间分辨率：20μm 测量长度：20m 中心波长：1550nm 插损、回损分析 主要应用 无源器件插损、回损测量 硅光芯片插损、回损测量 平面波导器件测试 光学链路分析、诊断 产品参数 如需了解更多详情，请直接访问http://www.etsc

OCI-L是一款高精度光纤长度测量系统，主要用于测量光学链路的延时和长度。其原理基于光频域反射技术（OFDR），长度测量范围为100m，可选200m，测量精度达mm量级。支持系统定制，为客户提供全方位的解决方案。 产品特点 测量精度：1mm 测量速度快，使用方便 支持定制更大测量范围 主要应用 无源器件测量 光学链路测量 产品参数 如需了解更多详情，请直接访问http://www.etsc-tech.com，或者邮件咨询sales@etsc-tech.com，电话咨询027-87807177/819

OCI是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。 产品特点 波长范围：1525~1625nm或1265~1340nm 空间分辨率：10μm@50m、20μm@100m 测量长度：100m（可定制升级） 自校准，无需人为

OCI是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。 产品特点 波长范围：1525~1625nm或1265~1340nm 空间分辨率：10μm@50m、20μm@100m 测量长度：100m（可定制升级） 自校准，无需人为

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